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激光測量設(shè)備

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quDIS皮米精度位移激光干涉儀
昊量光電推出的皮米精度位移干涉測量儀quDIS是對納米級別的位移波動進行量測的理想儀器，基于其*的測量原理，相對距離的重復(fù)精度達到了50皮米。quDIS可同時支持三個測量通道，使其可以適用于任意的多軸測量中。quDIS在原理上同樣采用激光干涉法，不過與傳統(tǒng)激光干涉儀相比，其集成了法珀腔（Reference cavity）及飽和吸收氣室（GC）作為頻率校準(zhǔn)參考，通過皮米精度位移激光干涉儀

型號：quDIS 廠商性質(zhì)：代理商
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Xper WLI白光干涉儀
Xper WLI 是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)，從而實現(xiàn)器件表面形貌3D測量的光學(xué)檢測儀器。白光干涉儀

型號：Xper WLI 廠商性質(zhì)：代理商
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干涉儀.邁克爾遜干涉儀 FTIR用
在一個臂上增加一個移動反光鏡以完成干涉儀，并允許光路差在零OPD附近變化。堅固的結(jié)構(gòu)和對準(zhǔn)的特點，意味著 INT 05 系列干涉儀很適合您更高精度的近紅外分析儀的應(yīng)用。邁克爾遜干涉儀 FTIR用

型號：干涉儀. 廠商性質(zhì)：代理商
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高精度位移測量儀-激光干涉儀
昊量光電推出的PICOSCALE位移測量儀產(chǎn)品是基于激光干涉方法設(shè)計的非接觸式位移和振動測量設(shè)備。因為不需要物理接觸，所以測量不會影響物體。這尤其適用于較小的物體，它們的動力學(xué)很容易受到傳統(tǒng)測量探頭的影響。微位移測量儀廣泛應(yīng)用于定位技術(shù)中，可以在pm分辨率下位移跟蹤定位。高精度位移測量儀-激光干涉儀

型號：廠商性質(zhì)：代理商
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λ/1000超高精度激光干涉儀
愛沙尼亞Difrotec公司的激光干涉儀是市場上高精度干涉儀的*產(chǎn)品，測量精度可達0.6nm（λ/1000）. 其*產(chǎn)品D7激光干涉儀采用點衍射技術(shù)，主要用于高精度的表面（平面,球面,非球面,自由曲面）檢測及透射波前檢測。λ/1000超高精度激光干涉儀

型號：廠商性質(zhì)：代理商
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