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| PID控制器PLL鎖相環(huán) | Moku:Pro |
Moku:Pro_PID控制器PLL鎖相環(huán)
Moku:Pro_PID控制器PLL鎖相環(huán)
Moku:PID控制器的PID控制器具有四個*可配置的PID控制器，具有亞微秒的延遲。這使得它們能夠用于要求低和高反饋帶寬的應用，如激光溫度和電流穩(wěn)定。通過使積分和微分控制器具有獨立的增益設置，PID控制器也可以用作超前滯后補償器。
Moku:Pro是一個基于芯片的儀器測試系統(tǒng)，能夠在FPGA硬件平臺上運行多個儀器。現(xiàn)在，使用Multi-instrument Mode，傳統(tǒng)上需要由獨立硬件盒或模塊組成的整個FPGA測試設備系統(tǒng)，現(xiàn)在可以在一個Moku:Pro上實現(xiàn)。利用FPGA的動態(tài)重配置，用戶可以獨立地熱插拔儀表，而不影響系統(tǒng)中的其他儀表。此外，儀器之間可以相互連接，信號在FPGA內(nèi)*通過數(shù)字域傳遞。這可以實現(xiàn)高數(shù)據(jù)傳輸速率和超低延遲，而且不會出現(xiàn)信噪比下降。而通常由獨立硬件模塊或儀器之間的模數(shù)或數(shù)模轉換往往會導致信噪比下降。多儀器模式極大地擴展了Moku:Pro的通用性，體現(xiàn)了loC功能的潛力。
Moku:Pro_PID控制器特征參數(shù):
4個輸入通道，4個輸出通道，4個獨立的PID控制器，帶控制矩陣用于MIMO
使用交互式波德圖實時設計您的控制系統(tǒng)的頻率響應
信號處理鏈中內(nèi)置探針點的數(shù)字信號處理的框圖視圖
多段PID生成器與單或雙積分器和微分器與低和高頻增益飽和
集成探測點的信號監(jiān)測
輸入?yún)?shù)相關規(guī)格:
控制器 ：通用參數(shù)
增益特性
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